Keysight E8363A 是一款 高性能矢量網(wǎng)絡分析儀(VNA),屬于 PNA 系列,專為 射頻(RF)、微波和毫米波器件測試 設計。它廣泛應用于 無線通信、航空航天、國防電子、半導體測試 等領域,提供 高精度 S 參數(shù)測量、時域分析、噪聲系數(shù)測試 等功能。
本篇文章將從 產(chǎn)品參數(shù)、使用說明、典型應用 三個方面詳細介紹 E8363A,幫助用戶快速掌握其功能并優(yōu)化測試流程。
參數(shù) | 規(guī)格 |
---|---|
頻率范圍 | 10 MHz ~ 40 GHz(可擴展至67 GHz) |
動態(tài)范圍 | >130 dB(典型值) |
測量速度 | 最快 5 μs/點(快速掃描模式) |
輸出功率 | -50 dBm ~ +13 dBm(可調(diào)) |
參數(shù) | 規(guī)格 |
---|---|
幅度精度 | ±0.03 dB(校準后) |
相位精度 | ±0.3°(校準后) |
跡線噪聲 | <0.002 dB RMS(1 kHz IFBW) |
溫度穩(wěn)定性 | ±0.01 dB/°C(典型值) |
端口配置:2端口(標準),可擴展至4端口
校準方式:支持SOLT(短路-開路-負載-直通)、TRL、LRM校準
數(shù)據(jù)接口:GPIB、LAN、USB 2.0
顯示分辨率:12.1英寸觸摸屏(1024×768像素)
使用 高質(zhì)量射頻電纜(如3.5mm或N型接口)連接 E8363A 的 Port 1 和 Port 2 至 DUT。
若測試差分器件(如平衡濾波器),需搭配 差分探針或巴倫。
選擇校準套件:在儀器菜單中匹配校準件型號(如85052D)。
執(zhí)行SOLT校準:依次連接短路(Short)、開路(Open)、負載(Load)、直通(Thru)標準件。
驗證校準:檢查 S11/S22 的反射系數(shù)是否接近0 dB(理想匹配)。
設置頻率范圍
按 【FREQ】鍵,輸入起始(Start)和終止(Stop)頻率(如1 GHz ~ 20 GHz)。
選擇測量參數(shù)
按 【S-Parameter】鍵,選擇 S11(反射系數(shù))、S21(傳輸系數(shù)) 等。
調(diào)整掃描點數(shù)與IF帶寬
增加點數(shù)(如1601點)可提高分辨率,降低IF帶寬(如10 Hz)可減少噪聲。
數(shù)據(jù)保存與導出
支持保存為 **.CSV、.S2P** 格式,便于后續(xù)分析(如ADS仿真)。
功能:用于定位傳輸線中的阻抗不連續(xù)點(如PCB走線缺陷)。
操作步驟:
按 【Transform】→【Time Domain】。
設置時域門控(Gating)以隔離特定反射信號。
適用場景:放大器、混頻器的噪聲性能評估。
所需選件:N4000A 噪聲系數(shù)測試套件。
功能:測量變頻損耗、隔離度等參數(shù)。
所需選件:S93080B 混頻器測試軟件。
測試對象:濾波器、功放、天線、耦合器
關鍵指標:
S11/S22(回波損耗 >15 dB)
S21(插入損耗 <3 dB)
測試對象:雷達組件、衛(wèi)星通信模塊
特殊需求:
高動態(tài)范圍(>120 dB)以檢測微弱信號
相位穩(wěn)定性(±0.5°)用于波束成形系統(tǒng)
測試對象:GaN HEMT、SiC 功率器件
注意事項:
使用 直流偏置模塊(如N469x系列)提供柵極/漏極電壓。
避免過驅(qū)(Output Power ≤ 0 dBm)以防損壞器件。
測試對象:PCB傳輸線、連接器
方法:
時域反射計(TDR)分析阻抗一致性。
眼圖生成(需配合BERT或示波器)。
Keysight E8363A 是一款 高精度、多功能 的矢量網(wǎng)絡分析儀,適用于 研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)檢 全流程。其 寬頻帶、低噪聲、高動態(tài)范圍 特性使其在 5G、毫米波、雷達、半導體 等領域表現(xiàn)卓越。
基礎射頻測試:E8363A(2端口) + 85052D校準套件。
復雜系統(tǒng)測試:E8363A(4端口擴展) + N4000A噪聲選件。
毫米波擴展:搭配VDI變頻器(覆蓋至67 GHz)。
Keysight E8363A 是一款 高性能矢量網(wǎng)絡分析儀(VNA),屬于 PNA 系列,專為 射頻(RF)、微波和毫米波器件測試 設計。它廣泛應用于 無線通信、航空航天、國防電子、半導體測試 等領域,提供 高精度 S 參數(shù)測量、時域分析、噪聲系數(shù)測試 等功能。
本篇文章將從 產(chǎn)品參數(shù)、使用說明、典型應用 三個方面詳細介紹 E8363A,幫助用戶快速掌握其功能并優(yōu)化測試流程。
參數(shù) | 規(guī)格 |
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頻率范圍 | 10 MHz ~ 40 GHz(可擴展至67 GHz) |
動態(tài)范圍 | >130 dB(典型值) |
測量速度 | 最快 5 μs/點(快速掃描模式) |
輸出功率 | -50 dBm ~ +13 dBm(可調(diào)) |
參數(shù) | 規(guī)格 |
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幅度精度 | ±0.03 dB(校準后) |
相位精度 | ±0.3°(校準后) |
跡線噪聲 | <0.002 dB RMS(1 kHz IFBW) |
溫度穩(wěn)定性 | ±0.01 dB/°C(典型值) |
端口配置:2端口(標準),可擴展至4端口
校準方式:支持SOLT(短路-開路-負載-直通)、TRL、LRM校準
數(shù)據(jù)接口:GPIB、LAN、USB 2.0
顯示分辨率:12.1英寸觸摸屏(1024×768像素)
使用 高質(zhì)量射頻電纜(如3.5mm或N型接口)連接 E8363A 的 Port 1 和 Port 2 至 DUT。
若測試差分器件(如平衡濾波器),需搭配 差分探針或巴倫。
選擇校準套件:在儀器菜單中匹配校準件型號(如85052D)。
執(zhí)行SOLT校準:依次連接短路(Short)、開路(Open)、負載(Load)、直通(Thru)標準件。
驗證校準:檢查 S11/S22 的反射系數(shù)是否接近0 dB(理想匹配)。
設置頻率范圍
按 【FREQ】鍵,輸入起始(Start)和終止(Stop)頻率(如1 GHz ~ 20 GHz)。
選擇測量參數(shù)
按 【S-Parameter】鍵,選擇 S11(反射系數(shù))、S21(傳輸系數(shù)) 等。
調(diào)整掃描點數(shù)與IF帶寬
增加點數(shù)(如1601點)可提高分辨率,降低IF帶寬(如10 Hz)可減少噪聲。
數(shù)據(jù)保存與導出
支持保存為 **.CSV、.S2P** 格式,便于后續(xù)分析(如ADS仿真)。
功能:用于定位傳輸線中的阻抗不連續(xù)點(如PCB走線缺陷)。
操作步驟:
按 【Transform】→【Time Domain】。
設置時域門控(Gating)以隔離特定反射信號。
適用場景:放大器、混頻器的噪聲性能評估。
所需選件:N4000A 噪聲系數(shù)測試套件。
功能:測量變頻損耗、隔離度等參數(shù)。
所需選件:S93080B 混頻器測試軟件。
測試對象:濾波器、功放、天線、耦合器
關鍵指標:
S11/S22(回波損耗 >15 dB)
S21(插入損耗 <3 dB)
測試對象:雷達組件、衛(wèi)星通信模塊
特殊需求:
高動態(tài)范圍(>120 dB)以檢測微弱信號
相位穩(wěn)定性(±0.5°)用于波束成形系統(tǒng)
測試對象:GaN HEMT、SiC 功率器件
注意事項:
使用 直流偏置模塊(如N469x系列)提供柵極/漏極電壓。
避免過驅(qū)(Output Power ≤ 0 dBm)以防損壞器件。
測試對象:PCB傳輸線、連接器
方法:
時域反射計(TDR)分析阻抗一致性。
眼圖生成(需配合BERT或示波器)。
Keysight E8363A 是一款 高精度、多功能 的矢量網(wǎng)絡分析儀,適用于 研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)檢 全流程。其 寬頻帶、低噪聲、高動態(tài)范圍 特性使其在 5G、毫米波、雷達、半導體 等領域表現(xiàn)卓越。
基礎射頻測試:E8363A(2端口) + 85052D校準套件。
復雜系統(tǒng)測試:E8363A(4端口擴展) + N4000A噪聲選件。
毫米波擴展:搭配VDI變頻器(覆蓋至67 GHz)。